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和樣品預(yù)處理時(shí)間有關(guān)。以氫氧化鎳為例，它的處理時(shí)間至少需要8h，由于其干燥過(guò)程容易板結(jié)，故處理溫度不宜過(guò)高（一般90°C），由于處理溫度不夠高，需用加長(zhǎng)時(shí)間來(lái)彌補(bǔ)。第二，和樣品的處理溫度有關(guān)。以氧化鋁為例，它的處理溫度一般是300°C。若降低其處理溫度，容易造成測(cè)量結(jié)果偏低，且BET測(cè)量曲線的線性很差。第三，和處理時(shí)的真空度有關(guān)。真空度偏低，使真空室的飽和蒸汽壓偏高，樣品表面處理不干凈，這樣都造成測(cè)量結(jié)果偏低（個(gè)別樣品除外）。第四，和稱樣量多少有關(guān)。樣品量的多少和其自身的比表...

體積密度、密度、孔隙率和吸水率的計(jì)算1、體積密度體積密度（particledensity）是指多孔材料在自然狀態(tài)下單位體積的質(zhì)量，對(duì)單個(gè)顆粒而言，又稱為顆粒密度，表示單個(gè)顆粒包括顆粒內(nèi)部開(kāi)口孔隙和閉口孔隙體積在內(nèi)的密度。其表達(dá)公式為：ρp=m/(V固+V開(kāi)+V閉)ρp—多孔材料的體積密度，kg/m3；m—多孔材料固體的質(zhì)量，kg；V固—多孔材料中固體骨架部分所占的體積，m3，V開(kāi)—多孔材料中開(kāi)口孔隙所占的體積，m3，V閉—多孔材料中閉口孔隙所占的體積，m3。（1）適應(yīng)塊狀、粒...

在當(dāng)今這個(gè)飛速發(fā)展的科技時(shí)代，人們對(duì)于工業(yè)生產(chǎn)中各種設(shè)備的需求越來(lái)越高。而在這些設(shè)備中，表面積測(cè)試儀的應(yīng)用尤為廣泛，因?yàn)樗梢钥焖?、?zhǔn)確地測(cè)量物體的表面積，幫助工程師們進(jìn)行設(shè)計(jì)和制造。其中，Bet比表面積測(cè)試儀作為一種常用的測(cè)試儀器，其優(yōu)美的工藝和精密的測(cè)量功能，讓人們對(duì)科技的奇妙之處有了更深層次的認(rèn)識(shí)。Bet比表面積測(cè)試儀是一種基于氣體吸附原理的測(cè)試儀器，其主要應(yīng)用于固體材料的表面積測(cè)量。Bet比法是指以比表面積為參數(shù)，對(duì)吸附劑與吸附物質(zhì)間的吸附現(xiàn)象進(jìn)行研究。利用這種方法，...

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗有什么區(qū)別介電特性是電介質(zhì)材料極其重要的性質(zhì)。在實(shí)際應(yīng)用中，電介質(zhì)材料的介電系數(shù)和介質(zhì)損耗是非常重要的參數(shù)。例如，制造電容器的材料要求介電系數(shù)盡量大，而介質(zhì)損耗盡量小。相反地，制造儀表絕緣器件的材料則要求介電系數(shù)和介質(zhì)損耗都盡量小。而在某些特殊情況下，則要求材料的介質(zhì)損耗較大。所以，通過(guò)測(cè)定介電常數(shù)（ε)及介質(zhì)損耗角正切（tgδ),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)1、介電常數(shù)（ε):某一電介質(zhì)（如硅酸鹽、高分子材料）組成...

使用振實(shí)密度儀的時(shí)候經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)一些問(wèn)題，下面就簡(jiǎn)單介紹一下振實(shí)密度儀出現(xiàn)故障了該怎樣來(lái)判斷。1、振實(shí)密度偏?。喝绻駥?shí)的密度偏小，那么需要確定的基因有兩個(gè)：第一是測(cè)量的粉體粉末的質(zhì)量是否正確，要保證所需要測(cè)得的振實(shí)密度一定的情況下保證所測(cè)粉末的質(zhì)量是對(duì)的。第二是檢查振實(shí)密度儀上的頻率調(diào)節(jié)設(shè)置是否正確，國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)一般是設(shè)置在250次的；2、振實(shí)密度儀無(wú)顯示：判斷方法有三，一是檢測(cè)振實(shí)密度儀與電源是否鏈接正確，鏈接正確打開(kāi)電源后會(huì)有電源指示燈會(huì)亮；二是先隨便輸入一個(gè)值或頻率，看顯示...

粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)密度是指將盛在容器中的粉體在規(guī)定的條件下被振實(shí)后的密度。ZS703型粉體密度測(cè)試儀是我公司依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T5162-2006/ISO3953:1993（金屬粉末振實(shí)密度的測(cè)定）獨(dú)立研發(fā)制造的粉體密度測(cè)試儀器，具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。儀器含蓋國(guó)標(biāo)GB/T5162-2006/ISO3953:1993中的各項(xiàng)指標(biāo)。ZS703型粉體密度測(cè)試儀由電機(jī)、振動(dòng)...

一、產(chǎn)品概述本儀器主要用于測(cè)試絕緣材料的絕緣電阻、體積電阻及表面電阻值，本儀器是一臺(tái)通用試驗(yàn)儀器，通過(guò)選配不同的測(cè)試電極，可以滿足和測(cè)試所有不同類型的絕緣材料，如：粉末、片材、薄膜和液體溶液等。本儀器測(cè)試量程比較款，可以到1018Ω，幾乎可以滿足于市場(chǎng)上所有的絕緣材料的測(cè)試。二、材料類型：適用于橡膠、塑料、薄膜、塊體等絕緣材料及粉體、液體、固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。三、適用客戶：適用于計(jì)量院、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、科研院所、生產(chǎn)企業(yè)研發(fā)、質(zhì)量品管檢測(cè)等用戶...

1.適用產(chǎn)品多：包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。2.功能強(qiáng)大，包含目前所有的數(shù)據(jù)處理方法：?jiǎn)吸c(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。吸、脫附等溫線分析。BJH中孔和大孔的孔體積，孔面積對(duì)孔徑的分布，總孔體積等?？梢约觮-plots微孔分析，as-plots微孔分析，MP微孔分析等?？梢赃M(jìn)行微孔DR理論、HK狹縫孔理論、SF圓柱形孔理論分析，...